2024.06.20

　核融合科学研究所（NIFS）プラズマ量子プロセス（PQP）ユニットでは、ユニットの研究活動を広く発信していくために、セミナーを開催しております。近年、半導体デバイスの高機能化・高性能化への要求が高まり、それに伴い、インフォマティクス手法を活用した材料解析（計測）が求められています。本講演では、主に窒化ガリウム半導体を対象に、透過電子顕微鏡や3次元アトムプローブトモグラフィとのマルチモーダル解析事例および光物性評価事例について、お話しいただきます。

【実施要項】

題目：半導体材料・デバイスにおけるマルチモーダル解析と今後の展望

講師：冨⾕ 茂隆（奈良先端科学技術⼤学院⼤学）

日時：2024年6月27日（木）

　　　13:00-14:15（ハイブリッド開催 ＊要登録）

会場：核融合科学研究所研究１期棟5階501号室

＊参加者は、対面参加・オンライン参加に関わらず、下記URLから、Zoomシステムへの事前登録が必要です（セミナー開始直前まで登録可）

https://us06web.zoom.us/meeting/register/tZcpcuuprDMjGN1EFG8zc1bJYO2XQvEl3Nnu

【講師ウェブページ】

https://sites.google.com/view/naist-metrology-info/

【連絡先】

星健夫：hoshi.takeo(at)nifs.ac.jp
※(at) を＠に直してください。